Zeiss Geminisem 300 สามารถทำการถ่ายภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิและการถ่ายภาพอิเล็กตรอนแบบย้อนกลับพร้อมกันพร้อมความละเอียดสูงถึง 0.7nm มันสามารถตระหนักถึงการถ่ายภาพความละเอียดขนาดใหญ่ที่มีคุณภาพสูงและมีคุณภาพสูง เครื่องตรวจจับ EDS ที่มีหน้าต่าง 100 mm2 สามารถทำการกำหนดเชิงปริมาณแบบเรียลไทม์ขององค์ประกอบจุดและพื้นที่ เครื่องตรวจจับ EBSD สามารถรวบรวม EBSPS ที่ปราศจากความผิดเพี้ยนและพิกเซลขนาดเล็กสำหรับการวิเคราะห์รายละเอียดและการวิเคราะห์เฟส

Spectro ARCOS ICP-OES มีโครงสร้างการสังเกตสองเท่าแนวตั้ง (DSOI) ที่เพิ่มความไวและกำจัดปัญหาการปนเปื้อน/เมทริกซ์ ระบบออปติคัล ORCA ของมันสามารถจับสเปกตรัมในช่วง 130-770 นาโนเมตร เมื่อเทียบกับระบบที่ใช้ Echelle กับการกระจายข้ามโดยใช้ตะแกรงขั้นตอนกลางและปริซึมมันให้ประสิทธิภาพในช่วง UV/VUV ที่มีความเข้มของสัญญาณโฟโตอะคูสติกตั้งแต่สูงถึง 5 เท่า

SPECTROLAB S มีระบบการบันทึกเครื่องตรวจจับที่ใช้ CMOS ของโลกทำให้เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โลหะระดับสูง มันให้การวิเคราะห์ที่รวดเร็วมากแม่นยำสูงและยืดหยุ่นเป็นพิเศษสำหรับแอปพลิเคชันตั้งแต่องค์ประกอบการติดตามไปจนถึงหลายเมทริกซ์

Jena Novaa 800F มีม้าหมุนในตัวพร้อมเครื่องอ่าน RFID สำหรับโคมไฟแคโทดกลวง 8 รหัสการแก้ไขพื้นหลังดิวเทอเรียม, ม้านั่งออพติคอลที่พิสูจน์แล้วในโหมดลำแสงเดี่ยวและคู่รวมถึงในโหมดการปล่อยและเครื่องตรวจจับ Siosens Solid-State ล่าสุด อุปกรณ์เสริมอัจฉริยะหลายตัวช่วยเพิ่มผลผลิตความปลอดภัยและความสะดวกในการใช้งานสำหรับการวิเคราะห์กิจวัตรประจำวัน

ระบบทดสอบวัสดุสากลขนาด 68tm-30 มีเซ็นเซอร์โหลด 30kN และ 1kN ที่มีความแม่นยำ 0.5 เกรดในช่วง 0.1 ~ 100% ระบบทดสอบสามารถดำเนินการควบคุมและรับการควบคุมแบบวงปิดรวมถึงการระบุตัวตนและการสอบเทียบของเซ็นเซอร์โดยอัตโนมัติ Video Extensometer Ave2 ที่ไม่ได้รับความแม่นยำสูงมีความละเอียด0.5μmและใช้ระบบแสงข้ามโพลาไรซ์ที่ได้รับการจดสิทธิบัตรและพัดลม CDAT เพื่อกำจัดอิทธิพลของบุคลากรแสงและการไหลเวียนของอากาศในผลการทดสอบ

โครงการ VR-5200 ใช้แสงที่มีโครงสร้างลายและเซ็นเซอร์ CMOS ที่มีความแม่นยำสูงเพื่อจับภาพและวัดความสูงและตำแหน่งของแต่ละจุด พร้อมกับเลนส์พลังงานต่ำสามารถวัดช่วงได้สูงถึง 200 × 100 × 50 มม. เลนส์ที่กำลังขยายสูงจะช่วยลดความละเอียดของการแสดงผลเป็น0.1μmทำให้สามารถวัดแบทช์แบบไม่ติดต่อของรูปร่างความผันผวนและความขรุขระได้

IM-8020 ใช้เลนส์ telecentric คู่ที่มีความสามารถในการตรวจจับขอบพิเศษเพื่อวัดตัวอย่างของความสูงที่แตกต่างกันด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว ประสิทธิภาพการตรวจจับของมันคือ 3 เท่าของรุ่นทั่วไปด้วย CMOs 20 ล้านพิกเซลและอัลกอริทึมการตรวจจับขอบใหม่ ด้วยพื้นที่วัด 300 มม. × 200 มม. และความเร็วสองเท่าของรุ่นดั้งเดิมสามารถวัดได้มากถึง 300 ส่วนในเวลาเพียงไม่กี่วินาที สิ่งนี้ช่วยให้การวัดที่รวดเร็วแม่นยำและง่ายปรับปรุงความแม่นยำอย่างมากในขณะที่ลดเวลาการวัดและข้อผิดพลาดของมนุษย์

เครื่องวิเคราะห์อนุภาคเลเซอร์ HELOS/BR นั้นติดตั้งหน่วยการกระจายตัวของ Rodos Dry ที่ทรงพลังและแข็งแกร่งสำหรับการวิเคราะห์ขนาดอนุภาคที่รวดเร็วและทำซ้ำได้ของตัวอย่างแห้ง มีช่วงการวัด 0.3 ถึง175μmและความแม่นยำน้อยกว่า 0.3%

Jupiter STA 449F3 เป็นเครื่องมือที่แข็งแกร่งยืดหยุ่นและใช้งานง่ายซึ่งกำหนดผลกระทบแคลอรี่และการเปลี่ยนแปลงมวลพร้อมกัน มันรวม DSC ความร้อนที่มีประสิทธิภาพสูงกับเทอร์โมบาลซ์ที่มีความละเอียด microgram นำเสนอโหลดตัวอย่างที่ไม่มีใครเทียบและช่วงการวัด